AUIRF7309Q Product Datasheet

/var/www/html/datasheet/sites/default/files/pdfhtml_dummy/auirf7309q-html.html
background image

 

AUIRF7309Q 

V

DSS 

30V 

R

DS(on)

   max.  0.05



I

D  

4.7A 

-30V 

0.10



-3.5A 

 

N-CH P-CH 

Description 
Specifically designed for Automotive applications, this cellular 
design of HEXFET® Power MOSFETs utilizes the latest 
processing techniques to achieve low on-resistance per silicon 
area. This benefit combined with the fast switching speed and 
ruggedized device design that HEXFET power MOSFETs are 
well known for, provides the designer with an extremely efficient 
and reliable device for use in Automotive and a wide variety of 
other applications. 

Features 

  Advanced Planar Technology 

 Low 

On-Resistance 

  Logic Level Gate Drive 

  Dual N and P Channel MOSFET 
  Dynamic dv/dt Rating 

  150°C Operating Temperature 

 Fast Switching 

  Lead-Free, RoHS Compliant 

  Automotive Qualified *  

 

2015-9-30 

HEXFET® is a registered trademark of Infineon. 
*Qualification standards can be found at 

www.infineon.com

 

 

AUTOMOTIVE GRADE 

Symbol  

Parameter  

      Max.  

Units  

N-Channel P-Channel 

I

D

 @ T

A

 = 25°C 

10 Sec. Pulsed Drain Current, V

GS

 @ 10V  

4.7 

-3.5 

I

D

 @ T

A

 = 25°C 

Continuous Drain Current, V

GS

 @ 10V  

4.0 

-3.0 

I

D

 @ T

A

 = 70°C 

Continuous Drain Current, V

GS

 @ 10V  

3.2 

-2.4 

I

DM 

Pulsed Drain Current  16 

-12 

P

D

 @T

A

 = 25°C 

Maximum Power Dissipation   

         1.4  

  

Linear Derating Factor 

        0.011 

W/°C 

V

GS 

Gate-to-Source Voltage 

        ± 20  

dv/dt 

Peak Diode Recovery dv/dt  6.9 

-6.0 

V/ns 

T

J  

Operating Junction and 

°C 

T

STG 

Storage Temperature Range 

             -55  to + 150   

Absolute Maximum Ratings 

Stresses beyond those listed under “Absolute Maximum Ratings” may cause permanent damage to the device.   These are stress 
ratings only; and functional operation of the device at these or any other condition beyond those indicated in the specifications is not 
implied. Exposure to absolute-maximum-rated conditions for extended periods may affect device reliability. The thermal resistance 
and power dissipation ratings are measured under board mounted and still air conditions. Ambient temperature (TA) is 25°C, unless 
otherwise specified. 

Thermal Resistance  

Symbol Parameter 

Typ. 

Max. 

Units 

°C/W   

R

JA

  

Junction-to-Ambient ( PCB Mount, steady state)  ––– 

90 

SO-8 

AUIRF7309Q 

Base part number 

Package Type 

Standard Pack 

Orderable Part Number   

Form 

Quantity 

AUIRF7309Q 

SO-8 

Tape and Reel  

4000 

AUIRF7309QTR 

G D S 

Gate Drain Source 

D1

D1

D2

D2

G1

S2

G2

S1

Top View

8

1

2

3

4

5

6

7

P-CHANNEL MOSFET

N-CHANNEL MOSFET

/var/www/html/datasheet/sites/default/files/pdfhtml_dummy/auirf7309q-html.html
background image

 

AUIRF7309Q 

 

2015-9-30 

Static @ T

J

 = 25°C (unless otherwise specified) 

  

Parameter  

Min. 

Typ. 

Max. 

Units 

Conditions 

V

(BR)DSS  

Drain-to-Source Breakdown Voltage  

N-Ch 30  ––– ––– 

V  

V

GS

 = 0V, I

D

 = 250µA 

P-Ch -30  ––– ––– 

V

GS

 = 0V, I

D

 = -250µA 

V

(BR)DSS

/

T

J   

Breakdown Voltage Temp. Coefficient  

N-Ch ––– 0.032 ––– 

V/°C  

Reference to 25°C, I

D

 = 1mA  

P-Ch 

––– 

-0.037  ––– 

Reference to 25°C, I

D

 = -1mA  

R

DS(on) 

   

Static Drain-to-Source On-Resistance    

N-Ch  

––– ––– 0.050 



V

GS

 = 10V, I

D

 = 2.4A 

––– ––– 0.080 

V

GS

 = 4.5V, I

D

 = 2.0A 

P-Ch 

––– ––– 0.10 

V

GS

 = -10V, I

D

 = -1.8A 

––– ––– 0.16 

V

GS

 = -4.5V, I

D

 = -1.5A 

V

GS(th)  

Gate Threshold Voltage  

N-Ch 1.0  –––  3.0 

V  

V

DS

 = V

GS

, I

D

 = 250µA 

P-Ch -1.0  –––  -3.0 

V

DS

 = V

GS

, I

D

 = -250µA 

gfs  

Forward Trans conductance  

N-Ch 5.2  ––– ––– 

S  

V

DS

 = 15V, I

D

 = 2.4A 

P-Ch 2.5  ––– ––– 

V

DS

 = -24V, I

D

 = -1.8A 

I

DSS 

   

Drain-to-Source Leakage Current    

N-Ch –––  –––  1.0 

µA  

V

DS

 =24V, V

GS

 = 0V 

P-Ch –––  –––  -1.0 

V

DS

 = -24V,V

GS

 = 0V 

N-Ch –––  –––  25 

V

DS

 =24V, V

GS

 = 0V ,T

J

 =125°C  

P-Ch –––  –––  -25 

V

DS

 = -24V,V

GS

 = 0V,T

J

 =125°C   

I

GSS 

   

 

Gate-to-Source Forward Leakage  

N-P 

––– 

––– 

± 

100 

nA  

 

V

GS

 = 

± 

20V  

Gate-to-Source Reverse Leakage  

N-P 

––– 

––– 

± 

100 V

GS

 = 

± 

20V  

Dynamic  Electrical Characteristics @ T

J

 = 25°C (unless otherwise specified) 

Q

g  

Total Gate Charge   

N-Ch –––  –––  25 

nC  

N-Channel 

P-Ch –––  –––  25 

I

D

 = 2.6A, V

DS

 = 16V,V

GS

 = 4.5V 

Q

gs  

Gate-to-Source Charge  

N-Ch –––  –––  2.9 



 

P-Ch –––  –––  2.9 

P-Channel 

Q

gd  

Gate-to-Drain Charge  

N-Ch –––  –––  7.9 

I

D

 = -2.2A,V

DS

 = -16V,V

GS

 = -4.5V 

P-Ch –––  –––  9.0 

 

t

d(on)  

Turn-On Delay Time  

N-Ch –––  6.8  ––– 

ns 

 

N-Channel 

P-Ch –––  11  ––– 

V

DD

 = 10V,I

D

 = 2.6A,R

= 6.0



t

r  

Rise Time  

N-Ch –––  21  ––– 

R

= 3.8

 

P-Ch –––  17  ––– 

 

t

d(off)  

Turn-Off Delay Time  

N-Ch –––  22  ––– 

P-Channel 

P-Ch –––  25  ––– 

V

DD

 = -10V,I

D

 = -2.2A,R

= 6.0



t

f  

Fall Time  

N-Ch –––  7.7  ––– 

R

= 4.5

 

P-Ch –––  18  ––– 

L

Internal Drain Inductance 

N-P 

––– 

4.0 

––– 

nH 

 

Between lead, 6mm(0.25n) from  

L

Internal Source Inductance 

N-P 

––– 

6.0 

––– 

package and center of die contact 

C

iss  

Input Capacitance  

N-Ch –––  520  ––– 

pF  

N-Channel 

P-Ch –––  440  ––– 

V

GS

 = 0V,V

DS

 = 15V,ƒ = 1.0MHz 

C

oss  

Output Capacitance  

N-Ch –––  180  ––– 



 

P-Ch –––  200  ––– 

P-Channel 

C

rss  

Reverse Transfer Capacitance  

N-Ch –––  72  ––– 

V

GS

 = 0V,V

DS

 = -15V,ƒ = 1.0MHz 

P-Ch   93 ––– 

 

Diode Characteristics  

  

        Parameter 

 

Min. 

Typ.  Max.  Units 

Conditions 

I

   

Continuous Source Current (Body Diode)  

N-Ch –––  –––  1.8 

A  

 

P-Ch –––  –––  -1.8 

 

I

SM 

   

Pulsed Source Current 

N-Ch –––  –––  16 

 

(Body Diode)

P-Ch –––  –––  -12 

 

V

SD  

Diode Forward Voltage  

N-Ch –––  –––  1.0 

T

J

 = 25°C,I

= 1.8A,V

GS

 = 0V 

P-Ch –––  –––  -1.0 

T

J

 = 25°C,I

= -1.8A,V

GS

 = 0V 

t

rr   

Reverse Recovery Time   

N-Ch –––  47  71 

ns   

N-Channel 

P-Ch –––  53  80 

T

J

 = 25°C ,I

F

 = 2.6A, di/dt = 100A/µs  

Q

rr   

Reverse Recovery Charge   

N-Ch –––  56  84 

nC   

P-Channel 

P-Ch   66 99 

T

J

 = 25°C,I

F

 = -2.2A, di/dt = 100A/µs  

t

on 

Forward Turn-On Time 

Intrinsic turn-on time is negligible (turn-on is dominated by L

S

+L

D

V  

Notes:

  Repetitive rating;  pulse width limited by max. junction temperature. (See Fig. 23) 



N-Channel I

SD

 

2.4A, di/dt 73A/µs, V

DD

 

V

(BR)DSS

, T

J

 

 150°C. 

 P-Channel 

I

SD

 

-1.8A, di/dt 90A/µs, V

DD

 

V

(BR)DSS

, T

J

 

 150°C 

 Pulse 

width 

300µs; duty cycle  2%. 

  When mounted on 1" square PCB (FR-4 or G-10 Material). For recommended footprint and soldering techniques refer to  

 

application note #AN-994 

/var/www/html/datasheet/sites/default/files/pdfhtml_dummy/auirf7309q-html.html
background image

 

AUIRF7309Q 

 

2015-9-30 

Fig. 2 Typical Output Characteristics 

T

= 150°C 

Fig. 3 

Typical Transfer Characteristics

 

 

Fig. 4 Normalized On-Resistance 

vs. Temperature 

Fig. 1 Typical Output Characteristics 

T

= 25°C 

N-Channel 

/var/www/html/datasheet/sites/default/files/pdfhtml_dummy/auirf7309q-html.html
background image

 

AUIRF7309Q 

 

2015-9-30 

Fig 5.  Typical Capacitance vs.  
 

      Drain-to-Source Voltage

 

Fig 6.  Typical Gate Charge vs. 
 

      Gate-to-Source Voltage

 

 

 

Fig 8.  Maximum Safe Operating Area  

Fig. 7 Typical Source-to-Drain Diode 

 Forward Voltage 

N-Channel 

/var/www/html/datasheet/sites/default/files/pdfhtml_dummy/auirf7309q-html.html
background image

 

AUIRF7309Q 

 

2015-9-30 

Fig 11.  Maximum Effective Transient Thermal Impedance, Junction-to-Case  

Fig 9.  Maximum Drain Current vs. Case Temperature 

Fig 10a.  Switching Time Test Circuit 

Fig 10b.  Switching Time Waveforms 

Fig 11a.  Gate Charge Test Circuit 

Vds

Vgs

Id

Vgs(th)

Qgs1 Qgs2

Qgd

Qgodr

Fig 11b.   Basic Gate Charge Waveform 

N-Channel 

/var/www/html/datasheet/sites/default/files/pdfhtml_dummy/auirf7309q-html.html
background image

 

AUIRF7309Q 

 

2015-9-30 

P-Channel 

Fig. 13 Typical Output Characteristics 

T

= 150°C 

Fig. 14 

Typical Transfer Characteristics

 

 

Fig. 15 Normalized On-Resistance 

vs. Temperature 

Fig. 12 Typical Output Characteristics 

T

= 25°C 

/var/www/html/datasheet/sites/default/files/pdfhtml_dummy/auirf7309q-html.html
background image

 

AUIRF7309Q 

 

2015-9-30 

 

Fig 16.  Typical Capacitance vs.  
 

      Drain-to-Source Voltage

 

Fig 17.  Typical Gate Charge vs. 
 

      Gate-to-Source Voltage

 

 

Fig 19.  Maximum Safe Operating Area  

Fig. 18 Typical Source-to-Drain Diode 

 Forward Voltage 

P-Channel 

/var/www/html/datasheet/sites/default/files/pdfhtml_dummy/auirf7309q-html.html
background image

 

AUIRF7309Q 

 

2015-9-30 

 

Fig 20.  Maximum Drain Current vs. Case Temperature 

Fig 21a.  Switching Time Test Circuit 

Fig 21b.  Switching Time Waveforms 

Fig 22a.  Gate Charge Test Circuit 

Fig 22b.   Basic Gate Charge Waveform 

P-Channel 

/var/www/html/datasheet/sites/default/files/pdfhtml_dummy/auirf7309q-html.html
background image

 

AUIRF7309Q 

 

2015-9-30 

Fig 24. Peak Diode Recovery dv/dt Test Circuit for N & P-Channel HEXFET

® 

Power MOSFETs 

Fig 23.  Maximum Effective Transient Thermal Impedance, Junction-to-Ambient 

N and P-Channel 

/var/www/html/datasheet/sites/default/files/pdfhtml_dummy/auirf7309q-html.html
background image

 

AUIRF7309Q 

10 

 

2015-9-30 

 

 

SO-8 Part Marking Information 

SO-8 Package Outline 

(Dimensions are shown in millimeters (inches)

 

e 1

D
E

y

b

A
A1

H
K
L

.189
.1497

 0°

.013

.050  BASIC

.0532
.0040

.2284
.0099
.016

.1968
.1574

 8°

.020

.0688
.0098

.2440
.0196
.050

4.80
3.80

0.33

1.35
0.10

5.80
0.25
0.40

 0°

1.27  BASIC

5.00
4.00

0.51

1.75
0.25

6.20
0.50
1.27

M IN

M AX

M ILLIM ETERS

IN C H ES

M IN

M AX

D IM

 8°

e

c

.0075

.0098

0.19

0.25

.025  BASIC

0.635  BASIC

8

7

5

6

5

D

B

E

A

e

6X

H

0.25 [ .010]  

A

6

7

K x 45°

8X L

8X c

y

0.25 [ .010]  

C A B

e1

A

A1

8X b

C

0.10 [ .004]  

4

3

1

2

F O O T P R I N T

8 X   0 . 7 2   [ . 0 2 8 ]

6 . 4 6   [ . 2 5 5 ]

3 X   1 . 2 7   [ . 0 5 0 ]

4 .     O U T L I N E   C O N F O R M S   T O   J E D E C   O U T L I N E   M S - 0 1 2 A A .

N O T E S :
1 .     D I M E N S I O N I N G   &   T O L E R A N C I N G   P E R   A S M E   Y 1 4 . 5 M - 1 9 9 4 .
2 .     C O N T R O L L I N G   D I M E N S I O N :   M I L L I M E T E R
3 .     D I M E N S I O N S   A R E   S H O W N   I N   M I L L I M E T E R S   [ I N C H E S ] .

5       D I M E N S I O N   D O E S   N O T   I N C L U D E   M O L D   P R O T R U S I O N S .

6       D I M E N S I O N   D O E S   N O T   I N C L U D E   M O L D   P R O T R U S I O N S .
          M O L D   P R O T R U S I O N S   N O T   T O   E X C E E D   0 . 2 5   [ . 0 1 0 ] .
7       D I M E N S I O N   I S   T H E   L E N G T H   O F   L E A D   F O R   S O L D E R I N G   T O
          A   S U B S T R A T E .

          M O L D   P R O T R U S I O N S   N O T   T O   E X C E E D   0 . 1 5   [ . 0 0 6 ] .

8 X   1 . 7 8   [ . 0 7 0 ]

Maker
Infineon Technologies